Design of Quick Response (QR) Barcode for Resistance Against Electromagnetic (EM) Information Leakage
Design of Quick Response (QR) Barcode for Resistance Against Electromagnetic (EM) Information Leakage
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抗电磁（EM）信息泄露的快速响应（QR）条码设计
DOI：
10.46620/21-0053
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
and Takaaki Mizuki
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Hideaki Sone;Daiya Nagata;Yuichi Hayashi;and Takaaki Mizuki
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基于人脑混色的电磁屏图像泄露对策
DOI：
10.1109/isemc.2010.5711260
发表时间：
2010
期刊：
2010 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility
影响因子：
--
作者：
Takashi Watanabe;Hiroto Nagayoshi;Takehiro Urano;Toshiro Uemura;H. Sako
通讯作者：
H. Sako
DOI：
10.1109/ispa.2012.113
发表时间：
2012
期刊：
2012 IEEE 10th International Symposium on Parallel and Distributed Processing with Applications
影响因子：
--
作者：
N. Teraura;K. Sakurai
通讯作者：
K. Sakurai
DOI：
10.1109/apemc.2016.7522759
发表时间：
2016
期刊：
2016 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility (APEMC)
影响因子：
--
作者：
Sen Wang;Y. Qiu;Jin Tian;Qinglin Xu
通讯作者：
Qinglin Xu
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DOI：
10.1109/emceurope.2019.8872035
发表时间：
2019
期刊：
2019 International Symposium on Electromagnetic Compatibility - EMC EUROPE
影响因子：
--
作者：
Ryota Birukawa;Y. Hayashi;T. Mizuki;H. Sone
通讯作者：
H. Sone
包含信息技术设备信息信号的辐射骚扰的可接收距离估计
DOI：
10.1109/isemc.2011.6038444
发表时间：
2011
期刊：
2011 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility
影响因子：
--
作者：
H. Sekiguchi;S. Seto
通讯作者：
S. Seto