Inspection of Bare Printed Circuit Board Using Planar Type ECT Probe
Inspection of Bare Printed Circuit Board Using Planar Type ECT Probe
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使用平面型 ECT 探头检查裸露印刷电路板
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
S.Yamada
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S.Yamada
使用带螺线管拾波线圈的 ECT 探头检查印刷电路板
DOI：
10.3379/jmsjmag.24.839
发表时间：
1999
期刊：
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影响因子：
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作者：
D. Kacprzak;T. Miyagoshi;S. Yamada;M. Iwahara
通讯作者：
M. Iwahara