Fooling Constant-Depth Threshold Circuits (Extended Abstract)
Fooling Constant-Depth Threshold Circuits (Extended Abstract)
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欺骗恒定深度阈值电路（扩展摘要）
DOI：
10.1109/focs52979.2021.00019
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Tell, Roei
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Hatami, Pooya;Hoza, William M.;Tal, Avishay;Tell, Roei
