電子機器発火：液体・固体誘電体材料の絶縁破壊・劣化メカニズム
電子機器発火：液体・固体誘電体材料の絶縁破壊・劣化メカニズム
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电子设备点火：液体和固体介电材料的介电击穿和劣化机制
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
花岡良一
中科院分区：
文献类型：
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作者：
山本博法，端良太，Fri Murdiya，花岡良一，宮城克徳，西川精一，高本清，金田尚士;花岡良一
