微分干渉顕微鏡を用いた顕微鏡下の3次元粒子位置計測法の開発
微分干渉顕微鏡を用いた顕微鏡下の3次元粒子位置計測法の開発
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使用微分干涉显微镜开发显微镜下三维粒子位置测量方法
DOI：
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发表时间：
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期刊：
影响因子：
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通讯作者：
竹原幸生
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kosei Yamaguchi;Chiho Kimpara;and Eiichi Nakakita;Kohsei Takehara;竹原幸生,西田学,仲井孝史;竹原幸生
