模拟冷链温度波动对CdTe量子点荧光淬灭性能的影响
模拟冷链温度波动对CdTe量子点荧光淬灭性能的影响
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DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
钮怡清
中科院分区：
文献类型：
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作者：
杨加敏;胥义;钮怡清
