K.K.Okudaira, E.Morikawa, S.Hasegawa, P.T.Sprunger, V.Saile, K.Seki, Y.Harada and N.Ueno: "Radiation damage of poly (metylmethacrylate) thin films analyzed by UPS" J.Electron Spectr.& Related Phenom. 88-91. 913-917 (1998)
K.K.Okudaira, E.Morikawa, S.Hasegawa, P.T.Sprunger, V.Saile, K.Seki, Y.Harada and N.Ueno: "Radiation damage of poly (metylmethacrylate) thin films analyzed by UPS" J.Electron Spectr.& Related Phenom. 88-91. 913-917 (1998)
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K.K.Okudaira、E.Morikawa、S.Hasekawa、P.T.Sprunger、V.Saile、K.Seki、Y.Harada 和 N.Ueno：“通过 UPS 分析聚甲基丙烯酸甲酯薄膜的辐射损伤”J.Electron Spectr。
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