界面状態密度を測定できる高周波と低周波の 交流バイアス電圧を用いるケルビンプローブ力分光法
界面状態密度を測定できる高周波と低周波の 交流バイアス電圧を用いるケルビンプローブ力分光法
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使用高频和低频交流偏置电压的开尔文探针力谱可以测量界面态密度
DOI：
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发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
菅原康弘
中科院分区：
文献类型：
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作者：
和泉遼;宮崎雅大;李艶君;菅原康弘
