HRTEM observation of dislocation structures in AlN thin films
HRTEM observation of dislocation structures in AlN thin films
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AlN 薄膜位错结构的 HRTEM 观察
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and Y. Ikuhara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Imaeda;T. Mizoguchi;Y. Sato;H.S. Lee;N. Shibata;T. Yamamoto;and Y. Ikuhara
