Electron microscopy of intermediate filaments: teaming up with atomic force and confocal laser scanning microscopy.
Electron microscopy of intermediate filaments: teaming up with atomic force and confocal laser scanning microscopy.
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中间丝的电子显微镜：与原子力和共焦激光扫描显微镜相结合。
作者：
L. Kreplak;Karsten Richter;U. Aebi;H. Herrmann
影响因子：
5.6
作者：
Mücke, N;Wedig, T;Herrmann, H
通讯作者：
Herrmann, H