Photometry unlocks 3D information from 2D localization microscopy data
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DOI：
10.1038/nmeth.4073
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发表时间：
2017-01-01
期刊：
影响因子：
48
通讯作者：
van de Linde, Sebastian
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Franke, Christian;Sauer, Markus;van de Linde, Sebastian
我们开发了一种简单的光度方法，时间，径向孔径为基础的强度估计（TRABI），允许用户从现有的2D定位显微镜数据中提取3D信息。TRABI使用单个发射器的发射模式的不同区域中的光子数的准确测定来生成z依赖的光度参数。这种方法可以确定荧光团的位置高达600 nm的焦平面，并可以结合双平面检测，以进一步提高轴向定位。
We developed a straightforward photometric method, temporal, radial-aperture-based intensity estimation (TRABI), that allows users to extract 3D information from existing 2D localization microscopy data. TRABI uses the accurate determination of photon numbers in different regions of the emission pattern of single emitters to generate a z-dependent photometric parameter. This method can determine fluorophore positions up to 600 nm from the focal plane and can be combined with biplane detection to further improve axial localization.