Simultaneous determination of multiple trace element compositions in thin (<30μm) layers of BCR-2G by 193 nm ArF excimer laser ablation-ICP-MS : implications for matrix effect and element fractionation on quantitative analysis
Simultaneous determination of multiple trace element compositions in thin (<30μm) layers of BCR-2G by 193 nm ArF excimer laser ablation-ICP-MS : implications for matrix effect and element fractionation on quantitative analysis
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通过 193 nm ArF 准分子激光烧蚀-ICP-MS 同时测定 BCR-2G 薄层（<30μm）中的多种微量元素成分：对定量分析中基体效应和元素分馏的影响
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y.Ishida
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T.Morishita;S.Arai;Y.Ishida
