Hydrogen motion in defect complexes: Reorientation kinetics of the B-H complex in silicon.

Hydrogen motion in defect complexes: Reorientation kinetics of the B-H complex in silicon.
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缺陷复合物中的氢运动:硅中 B-H 复合物的重新取向动力学。

DOI:
--
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发表时间:
1988
影响因子:
8.6
通讯作者:
Lopata
Lopata
中科院分区:
物理与天体物理1区
文献类型:
--
作者:
Stavola;Bergman;Pearton;Lopata

文献摘要

被引文献

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研究氢和络合物B-H和硅的运动规律。在贴花单一张力下产生单一取向优先的络合物B-H,单一温度下,在单一络合物(环境为60 K)下,高强度的H取代剂。在检测l‘对准,复合,比较,力,吸收,光学,振动,衰减,光偏振,平行,垂直和l’轴张力。一个小组的研究成果是,在一个小组的研究成果中,有一个小组的研究成果是,在一个小组的研究成果中,有一个小组的研究成果是,在一个小组的研究成果中,有一个小组的研究成果是,在一个小组的研究成果中,有一个小组的研究成果是,在一个小组的研究成果中,有一个小组的研究成果是,在一个小组的研究成果中,有一个小组的研究成果是,在一个小组的研究成果中,有一个小组的研究成果是
On etudie le mouvement de l'hydrogene dans le complexe B-H dans le silicium. On applique une tension afin de produire une orientation preferentielle du complexe B-H a une temperature suffisamment haute pour que H puisse se deplacer sans le complexe (environ 60 K). On detecte l'alignement des complexes en comparant les forces d'absorption optique de la vibration d'etirement de H pour une lumiere polarisee parallele et perpendiculaire a l'axe de tension. A partir de la cinetique de decroissance d'alignement apres l'application de la tension, on montre que le mouvement de H d'un site de liaison centree a un autre autour de B est active thermiquement par une energie d'activation de 0•19 eV