S.OGINO and A.TAKAHASHI: "Secondary charged particle spectrometer based on two dimensional EーTOF analysis(II)" JAERIーM. (1991)
S.OGINO and A.TAKAHASHI: "Secondary charged particle spectrometer based on two dimensional EーTOF analysis(II)" JAERIーM. (1991)
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S.OGINO 和 A.TAKAHASHI：“基于二维 E-TOF 分析的二次带电粒子光谱仪（II）” JAERI-M（1991）。
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