Film thickness dependence of the dielectric thin films in c-axis oriented bismuthlayer perovskite materials
Film thickness dependence of the dielectric thin films in c-axis oriented bismuthlayer perovskite materials
复制标题
c轴取向铋层钙钛矿材料中介电薄膜的膜厚依赖性
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H. Funakubo
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Funakubo
