富铟熔体生长InP晶体中的微观缺陷

富铟熔体生长InP晶体中的微观缺陷
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DOI:
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发表时间:
2014
期刊:
微纳电子技术
影响因子:
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通讯作者:
王阳
王阳
中科院分区:
其他
文献类型:
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作者:
冯丰;王书杰;王阳

文献摘要

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