Liquid Crystal-Particle Imaging Electrometry for Micro Electro Mechanical Systems
Liquid Crystal-Particle Imaging Electrometry for Micro Electro Mechanical Systems
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用于微机电系统的液晶粒子成像静电测量
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and Satoshi Konishi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Shinji Bono;and Satoshi Konishi
