300℃超の高温に耐えうる抵抗変化型メモリ素子を アモルファス酸化ガリウムで実現!

300℃超の高温に耐えうる抵抗変化型メモリ素子を アモルファス酸化ガリウムで実現!
复制标题

使用非晶态氧化镓实现了可承受300℃以上高温的可变电阻存储元件!

DOI:
--
复制
发表时间:
--
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
--
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:

文献摘要

相似文献