Atomistic origin of enhanced ionic conductivity in YSZ single dislocation studied by scanning transmission electron microscopy
Atomistic origin of enhanced ionic conductivity in YSZ single dislocation studied by scanning transmission electron microscopy
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扫描透射电子显微镜研究 YSZ 单位错中离子电导率增强的原子起源
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
N. Shibata and Y. Ikuhara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
B. Feng;R. Ishikawa;N. Shibata and Y. Ikuhara
