High-contrast imaging of NiO nano-channels using a polarization near-field scanning optical microscope
High-contrast imaging of NiO nano-channels using a polarization near-field scanning optical microscope
复制标题
使用偏振近场扫描光学显微镜对 NiO 纳米通道进行高对比度成像
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M.Sakai
中科院分区：
文献类型：
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作者：
R.Ishikura;H.Ochiai;N.Yasufuku;K.Omine;T.Kobayashi;M.Sakai
