Study on the surface density of surface-active substances through total-reflection X-ray absorption fine structure measurement
Study on the surface density of surface-active substances through total-reflection X-ray absorption fine structure measurement
复制标题
通过全反射X射线吸收精细结构测量研究表面活性物质的表面密度
DOI：
--
复制
发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
K.Kashimoto
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
M.Aratono;N.Onimaru;Y.Yoshikai;M.Shigehisa;I.Koga;K.Wongwailikhit;A.Ohta;T.Takanori;B.Lhoussaine;R.Strey;Y;Takata;M.Villeneuve;H;Matsubara;K.Shibata et al.;M.Aratono et al.;H.Matsubsara et al.;S.Azizian et al.;K.Kashimoto
