Quantitative determination of Al/Si order in sillimanite by high angular resolution electron channeling X-ray spectroscopy.
Quantitative determination of Al/Si order in sillimanite by high angular resolution electron channeling X-ray spectroscopy.
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高角分辨率电子通道 X 射线光谱法定量测定硅线石中的 Al/Si 有序度。
DOI：
10.2138/am-2018-6351
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发表时间：
2018
影响因子：
3.1
通讯作者：
A.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Igami;Y.;Kuribayashi;T. and Miyake;A.
