Detection of Trace Amount of Impurity in Smectic Liquid Crystals
Detection of Trace Amount of Impurity in Smectic Liquid Crystals
复制标题
近晶液晶中痕量杂质的检测
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
A.Ohno and J.Hanna
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H.Ahn;A.Ohno and J.Hanna
