Probing Techniques for GaN Power Electronics: How to Obtain 400+ MHz Voltage and Current Measurement Bandwidths without Compromising PCB Layout
Probing Techniques for GaN Power Electronics: How to Obtain 400+ MHz Voltage and Current Measurement Bandwidths without Compromising PCB Layout
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GaN 电力电子探测技术：如何在不影响 PCB 布局的情况下获得 400 MHz 电压和电流测量带宽
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Harry C. P. Dymond
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Harry C. P. Dymond
