Noise Characterization of Polycrystalline Silicon Thin Film Transistors for X-ray Imagers Based on Active Pixel Architectures.
Noise Characterization of Polycrystalline Silicon Thin Film Transistors for X-ray Imagers Based on Active Pixel Architectures.
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基于有源像素架构的 X 射线成像仪多晶硅薄膜晶体管的噪声特性。
DOI：
10.1557/proc-1066-a19-03
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Behravan,M
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Antonuk,LE;Koniczek,M;McDonald,J;El-Mohri,Y;Zhao,Q;Behravan,M
