Acceleration Voltage Dependences of Irradiation Damage and Image Contrast in Transmission Electron Microscopy
Acceleration Voltage Dependences of Irradiation Damage and Image Contrast in Transmission Electron Microscopy
复制标题
透射电子显微镜中辐照损伤和图像对比度的加速电压依赖性
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M.Hayashida et al.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S.Sanyal;et al.;M.Hayashida et al.
