Two-Dimensional Characterization of Wide-Bandgap Materials and Contact Interfaces by Using Scanning Internal Photoemission Microscopy
Two-Dimensional Characterization of Wide-Bandgap Materials and Contact Interfaces by Using Scanning Internal Photoemission Microscopy
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使用扫描内光电发射显微镜对宽带隙材料和接触界面进行二维表征
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Kenji Shiojima
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Shiojima;R. Matsuda;F. Horikiri;Y. Narita;N. Fukuhara and T. Mishima;Kenji Shiojima
