Characterization of strain distribution in quantum dots by X-ray diffraction
Characterization of strain distribution in quantum dots by X-ray diffraction
复制标题
通过 X 射线衍射表征量子点中的应变分布
DOI：
10.1016/s0022-0248(01)01684-0
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发表时间：
2002
影响因子：
1.8
通讯作者：
Tamaki Suzuki
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
T. Uragami;A. Acosta;H. Fujioka;T. Mano;J. Ohta;H. Ofuchi;M. Oshima;Y. Takagi;M. Kimura;Tamaki Suzuki
影响因子：
4
作者：
ARAKAWA, Y;SAKAKI, H
通讯作者：
SAKAKI, H