アレ干渉法を用いた切欠周辺の変位場計測(回折格子の残留ひずみの影響とその除去)
アレ干渉法を用いた切欠周辺の変位場計測(回折格子の残留ひずみの影響とその除去)
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使用阵列干涉测量缺口周围的位移场（残余应变对衍射光栅的影响及其去除）
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
宮下友貴
中科院分区：
文献类型：
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作者：
鈴木新一;宮下友貴
