S.Miyazaki: "Characterization of Ultrathin As-Implanted layers on Si(100)by Photoelectron Spectroscopy" Proc.of 4th Intern.Symp.on Atomically Controlled Surfaces and Interfaces. 329-331 (1997)
S.Miyazaki: "Characterization of Ultrathin As-Implanted layers on Si(100)by Photoelectron Spectroscopy" Proc.of 4th Intern.Symp.on Atomically Controlled Surfaces and Interfaces. 329-331 (1997)
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S.Miyazaki：“通过光电子能谱表征 Si(100) 上的超薄注入层”Proc.of 4th Intern.Symp.on Atomically Controlled Surfaces and Interfaces。
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