Access time measurements of Josephson-CMOS hybrid memory using single-flux-quantum circuits
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使用单通量量子电路测量 Josephson-CMOS 混合存储器的访问时间
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T. Van Duzer
中科院分区：
文献类型：
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作者：
N. Yoshikawa;M. Tokuda1;T. Tomida;H. Kojima;K. Fujiwara;Q. Liu;T. Van Duzer
