Mechanical Characterization of A Single Cell Using V-Beam Interface Employed On-Chip Probe
Mechanical Characterization of A Single Cell Using V-Beam Interface Employed On-Chip Probe
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使用片上探针的 V 形梁接口对单电池进行机械表征
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and Fumihito Arai
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Shinya Sakuma;Keitaro Ito;Makoto Kaneko;and Fumihito Arai
