Test Equipment for CMOS Lead Open Detection Based on Supply Current under AC Electronic Field Application

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交流电子场应用下基于电源电流的CMOS引线开路检测测试装置

DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
Proc.of Electronic Circuits World Convention 10
影响因子：
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通讯作者：
M.Ichimiya
M.Ichimiya
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
赤池 大史;山本 久志;会田 雅樹;飯村 清明;T.Hanyu;M.Ichimiya

文献摘要

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