X線逆格子マッピングによる不純物ドープGaAsNの評価
X線逆格子マッピングによる不純物ドープGaAsNの評価
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通过 X 射线倒数映射评估掺杂 GaAsN
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
牧本俊樹
中科院分区：
文献类型：
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作者：
井上洸;角田拓優;塚崎貴司;藤田実樹;牧本俊樹
