MEASUREMENT OF ALONG-TRACK SURFACE DISPLACEMENTS BY SAR: MULTI- APERTURE INTERFEROMETRY VS. AMPLITUDE PIXEL OFFSET
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通过 SAR 测量沿轨道表面位移：多孔径干涉测量法与孔径干涉测量法
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hiroshi Kimura
中科院分区：
文献类型：
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作者：
松永 悠斗;青木 直史;土橋 宜典;小嶋 徹也;Hiroshi Kimura
