On per-test fault diagnosis using the X-fault model
On per-test fault diagnosis using the X-fault model
复制标题
DOI：
10.1109/iccad.2004.1382653
复制
发表时间：
2004-11
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
X. Wen;T. Miyoshi;S. Kajihara;Laung-Terng Wang;K. Saluja;K. Kinoshita
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
X. Wen;T. Miyoshi;S. Kajihara;Laung-Terng Wang;K. Saluja;K. Kinoshita
提出了一种基于X故障模型的预测试故障诊断方法。X故障模型通过在扇出分支上使用不同的X符号来表示门中和/或其扇出分支上的一个或多个物理缺陷的所有可能行为。提出了一种新的技术，用于分析观察到的和模拟的反应之间的关系，以提取诊断信息和评分的诊断结果。实验结果表明了该方法的有效性。
This work proposes a new per-test fault diagnosis method based on the X-fault model. The X-fault model represents all possible behaviors of a physical defect or defects in a gate and/or on its fanout branches by using different X symbols on the fanout branches. A novel technique is proposed for analyzing the relation between observed and simulated responses to extract diagnostic information and to score the results of diagnosis. Experimental results show the effectiveness of our method.