Study of Quantitative Analysis Technique for thin films using XAS

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XAS薄膜定量分析技术研究

DOI：
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发表时间：
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期刊：
Second International Symposium on Standard Materials and Metrology for Nanotechnology, (accepted)
影响因子：
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通讯作者：
I.Kojima
I.Kojima
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
N.Matsubayashi;M.Imamura;J.Fan;I.Kojima

文献摘要

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