ナノビーム電子回折法をもちいたGeSn/Ge微細構造の歪み分布解析
ナノビーム電子回折法をもちいたGeSn/Ge微細構造の歪み分布解析
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利用纳米束电子衍射法分析 GeSn/Ge 微观结构的应变分布
DOI:
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发表时间:
2015
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
財満鎭明
中科院分区:
文献类型:
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作者:
齋藤晃;土井健太郎;池進一;中塚理;財満鎭明