Fundamental absorption edges in heteroepitaxial YBiO3 thin films

Fundamental absorption edges in heteroepitaxial YBiO3 thin films
复制标题

异质外延 YBiO3 薄膜的基本吸收边

DOI:
10.1063/1.4962975
复制
发表时间:
2016
影响因子:
3.2
通讯作者:
M. Jenderka
M. Jenderka
中科院分区:
物理与天体物理3区
文献类型:
--
作者:
M. Jenderka

文献摘要

参考文献

被引文献

相似文献

结构不稳定的 A III BiO 3 钙钛矿被预测为拓扑绝缘体,但其稳定的结构形式是平凡带绝缘体
DOI: 10.1103/physrevb.90.161111
发表时间: 2014
期刊: Physical Review B
影响因子: 3.7
作者:
G. Trimarchi;Xiuwen Zhang;A. Freeman;A. Zunger
通讯作者: A. Zunger
DOI: 10.1023/a:1006652705028
发表时间: 1999-01-01
期刊: JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE LETTERS
影响因子: --
作者:
Kale, KV;Jadhav, KM;Bichile, GK
通讯作者: Bichile, GK