Studies of buried interfaces Cu(In,Ga)Se2/CdS XPS and electrical investigations
Studies of buried interfaces Cu(In,Ga)Se2/CdS XPS and electrical investigations
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埋入界面 Cu(In,Ga)Se2/CdS XPS 和电学研究的研究
DOI：
10.1016/s0040-6090(03)00273-6
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发表时间：
2003
期刊：
影响因子：
2.1
通讯作者：
D. Mencaraglia
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
B. Canava;J. Vigneron;A. Etcheberry;D. Guimard;P. Grand;J. Guillemoles;D. Lincot;S. O. S. Hamatly;Z. Djebbour;D. Mencaraglia
