Comparative study of sensitive volume and triggering criteria of SEB in 600 V planar and trench IGBTs

Comparative study of sensitive volume and triggering criteria of SEB in 600 V planar and trench IGBTs
复制标题

DOI:
10.1016/j.microrel.2011.07.032
复制
发表时间:
2011-09
期刊:
Microelectron. Reliab.
影响因子:
--
通讯作者:
M. Zerarka;P. Austin;M. Bafleur
M. Zerarka;P. Austin;M. Bafleur
中科院分区:
其他
文献类型:
--
作者:
M. Zerarka;P. Austin;M. Bafleur

文献摘要

被引文献

相似文献