Charac- terization for High-Performance CMOS Using In-Water Advanced Kelvin -Contact Device Structure
Charac- terization for High-Performance CMOS Using In-Water Advanced Kelvin -Contact Device Structure
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使用水中先进开尔文接触器件结构对高性能 CMOS 进行表征
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T. Ohmi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
R. Kuroda;A. Teramoto;T. Komori;S. Sugawa;T. Ohmi
