Low-Energy Photoemission Study of C60/Rubrene/Au Interfaces in Practical Device Thickness
Low-Energy Photoemission Study of C60/Rubrene/Au Interfaces in Practical Device Thickness
复制标题
实际器件厚度下 C60/Rubrene/Au 界面的低能光电研究
DOI：
--
复制
发表时间：
2013
影响因子：
2.3
通讯作者：
Hisao Ishii
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Shin'ichi Machida;Yusuke Ozawa;Juni-ichi Takahashi;Hiroshi Tokairin;Yasuo Nakayama;Hisao Ishii
