Observation of defects in CuInSe2 by 300kV aberration corrected scanning transmission electron microscope
Observation of defects in CuInSe2 by 300kV aberration corrected scanning transmission electron microscope
复制标题
300kV像差校正扫描透射电镜观察CuInSe2缺陷
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y. Tanishiro and K. Takayanagi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A. Takeshita;T. Tanaka;T. Kubota;H. Miyake;H. Sawada;Y. Kondo;Y. Oshima;Y. Tanishiro and K. Takayanagi
DOI：
10.1136/ebmh.11.4.102
发表时间：
2008-10
期刊：
Evidence Based Mental Health
影响因子：
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作者：
P. Cochat;L. Vaucoret;J. Sarles
通讯作者：
P. Cochat;L. Vaucoret;J. Sarles