Sehar stress enhanced fatigue damage accumulation in single crystalline silicon under cyclic mechanical loading
Sehar stress enhanced fatigue damage accumulation in single crystalline silicon under cyclic mechanical loading
复制标题
Sehar应力增强循环机械载荷下单晶硅的疲劳损伤累积
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Kozo Koiwa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Shoji Kamiya;Arasu Udhayakumar;Hayato Izumi;Kozo Koiwa
