C.H.Chen, T.Kiguchi, A.Saiki, N.Wakiya, K.Shinozaki, N.Mizutani: "Characterization of defect type and dislocation density in double oxide heteroepitaxial CeO_2/YSZ/Si(001) films"Applied Physics. A76. 969-973 (2003)
C.H.Chen, T.Kiguchi, A.Saiki, N.Wakiya, K.Shinozaki, N.Mizutani: "Characterization of defect type and dislocation density in double oxide heteroepitaxial CeO_2/YSZ/Si(001) films"Applied Physics. A76. 969-973 (2003)
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C.H.Chen、T.Kiguchi、A.Saiki、N.Wakiya、K.Shinozaki、N.Mizutani：“双氧化物异质外延 CeO_2/YSZ/Si(001) 薄膜中缺陷类型和位错密度的表征”应用物理。
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