その場すれすれ入射小角X線散乱測定によるペンタセン薄膜形成中の膜厚の検討
その場すれすれ入射小角X線散乱測定によるペンタセン薄膜形成中の膜厚の検討
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使用原位掠入射小角 X 射线散射测量检查并五苯薄膜形成过程中的膜厚度
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
渡辺剛，小金澤智之，菊池護，吉本則之，広沢一郎
中科院分区：
文献类型：
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作者：
小鹿曹汰;神谷亮輔;山本秦平;鈴木充朗;山田容子;吉本則之;渡辺剛，小金澤智之，菊池護，吉本則之，広沢一郎
