A common-mode BIST technique for fully-differential sample-and-hold circuits
A common-mode BIST technique for fully-differential sample-and-hold circuits
复制标题
用于全差分采样保持电路的共模 BIST 技术
DOI：
10.1587/elex.9.1128
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发表时间：
2012
影响因子：
0.8
通讯作者：
Masayoshi Tachibana
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Jun Yuan;Masayoshi Tachibana
