Takashi Ito: "Modification of Silicon Nitride Tips with Trichlorosilane SAMs for Chemical Force Microscopy." Langmuir. 13. 4323-4332 (1997)
Takashi Ito: "Modification of Silicon Nitride Tips with Trichlorosilane SAMs for Chemical Force Microscopy." Langmuir. 13. 4323-4332 (1997)
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Takashi Ito：“用三氯硅烷 SAM 改进氮化硅尖端，用于化学力显微镜。”
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