A.Ohdhita: "Influence of operating conditions of electron biprisms cf three-electron-wave interference pattern"Proc.of the 15th International Congress on Electron Microscopy. 3. 315-316 (2002)
A.Ohdhita: "Influence of operating conditions of electron biprisms cf three-electron-wave interference pattern"Proc.of the 15th International Congress on Electron Microscopy. 3. 315-316 (2002)
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A.Ohdhita：“电子双棱镜操作条件对三电子波干涉图样的影响”第 15 届国际电子显微镜大会论文集。
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